Découvrez la machine d'inspection à rayons X des chipsets de carte mère d'ordinateur CE AX9100, conçue pour la détection de haute précision des composants SMT, BGA et Flip Chip. Dotée d'un tube à rayons X de 7 μm et d'un grossissement de 1 000X, cette machine garantit une imagerie haute définition en temps réel pour les industries des semi-conducteurs et de l'électronique.