Inspection aux rayons X à tube ouvert 160KV Unicomp AX9600 pour l'analyse des fils de liaison et des attaches de matrices
Propriétés de base
Lieu d'origine:
Chine
Nom de la marque:
Unicomp
Attestation:
CE, FDA
Numéro de modèle:
AX9600
Propriétés commerciales
Quantité minimum de commande:
1 ensemble
Prix:
can negotiate
Conditions de paiement:
T/T, L/C
Capacité d'approvisionnement:
30 ensembles par mois
Résumé du produit
Système d'inspection par rayons X à tube ouvert UNICOMP AX9600 160KV Le système d'inspection à rayons X à microfocus UNICOMP AX9600 160KV est équipé d'un tube à rayons X à microfocus à type ouvert de haute puissance de 160kV, permettant d'obtenir un point focal ultrafin de seulement 0,8 μm.Avec un ...
Détails du produit
Mettre en évidence:
Machine à rayons X à tube ouvert de 160 KV
,Inspection par rayons X pour l'analyse du fil de liaison
,Inspection de l'appareil de détection de l'air
Machine Type:
Équipement d'inspection à rayons X à microfocus pour semi-conducteurs
Dimensions:
1690 mm (L) × 2116 mm (L) × 1880 mm (H)
Tube Type:
Type ouvert
Machine Weight:
4590kg
Voltage:
160KV
Model:
AX9600
Description du produit
Système d'inspection par rayons X à tube ouvert UNICOMP AX9600 160KV
Le système d'inspection à rayons X à microfocus UNICOMP AX9600 160KV est équipé d'un tube à rayons X à microfocus à type ouvert de haute puissance de 160kV, permettant d'obtenir un point focal ultrafin de seulement 0,8 μm.Avec un grossissement géométrique maximal de 2000* et une pénétration X supérieure, ce système permet une quantification précise de la fraction vide pour les diodes TVS et sert de solution d'inspection de haute précision pour les emballages IC avancés, les matrices de stockage HBM,la vérification de la qualité des dispositifs à semi-conducteurs GPU.
Spécifications techniques
Résumé du système
| Les dimensions | Le nombre d'échantillons est calculé en fonction de l'échantillonnage. |
|---|---|
| Le poids | 4590 kg |
| Énergie | 220V ± 10% 50 Hz/60 Hz 9A |
| Consommation d'électricité | 2 kW |
Tubes à rayons X
| Type de tube | Type ouvert |
|---|---|
| Voltage | 160kv |
| Max. puissance | 64 W |
| Résolution du Conseil | 1 μm |
Système d'image
| Détecteur de rayons X | FPD |
|---|---|
| Taille des pixels | 84 μm |
| Zone de détection | La taille de l'appareil doit être indiquée. |
| Matrice de pixels | Le nombre d'éléments de mesure est le suivant: |
| Taux d'images | Maximum 30 images par seconde |
| Magnification du système | 34000X |
Système de contrôle du mouvement
| Taille maximale de la charge utile | Pour les pièces détachées: |
|---|---|
| Taille maximale de détection | Pour les pièces détachées: |
| Distance de déplacement par axe X/Y/Z | Le nombre d'étoiles est déterminé en fonction de la taille de l'étoile. |
| Tilt et rotation | Détecter une inclinaison de XY±70° |
PC industriels
| Mode de commande de mouvement | Affichage courbé 4K HD de 34 pouces |
|---|---|
| Système d'exploitation | Windows 11 à 64 bits |
| Réservation | Disque dur de 4 To + disque SSD de 512 G |
| La mémoire | 32G |
| Processeur | i5 12 génération |
Autres caractéristiques
| Fonctionnement de la porte | Porte automatique |
|---|---|
| Sécurité aux rayons X | Les émissions de dioxyde de carbone sont les suivantes: |
Applications
Le système d'inspection par rayons X à microfocus à haute puissance UNICOMP AX9600 est conçu pour l'évaluation non destructive (END) ultra-précise de semi-conducteurs et de composants microélectroniques avancés.Il fournit une quantification de la fraction vide de haute fidélité pour les diodes TVS, en plus de l'inspection interne des défauts pour les paquets de circuits intégrés avancés, les matrices de mémoire à large bande passante HBM, les modules GPU et les ensembles électroniques à haute densité.
Largement utilisé pour la validation de la qualité dans l'électronique automobile, les semi-conducteurs de puissance, le matériel électronique de qualité aérospatiale et les composants de précision miniatures,le système facilite la caractérisation précise des micro-voids, anomalies des joints de soudure, fractures internes et irrégularités de montage.Il fournit un soutien technique solide pour la validation de la R & D et le contrôle de la qualité des processus de production de masse dans le secteur de la fabrication de semi-conducteurs haut de gamme.
Images d'inspection
Image d'inspection des échantillons
Dimensions et apparence du système
Notation globale
cinq étoiles
100%
4 étoiles
0
3 étoiles
0
2 étoiles
0
1 étoile
0
Toutes les critiques
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JNICE
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