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Machine d'inspection à rayons X Microfocus 160KV pour la liaison de fils de semi-conducteurs NDT AX9600 Unicomp

Propriétés de base
Lieu d'origine: Chine
Nom de la marque: Unicomp
Attestation: CE, FDA
Numéro de modèle: AX9600
Propriétés commerciales
Quantité minimum de commande: 1 ensemble
Prix: can negotiate
Conditions de paiement: T/T, L/C
Capacité d'approvisionnement: 30 ensembles par mois
Résumé du produit
Machine d'inspection à rayons X Microfocus 160KV pour la liaison de fils de semi-conducteurs NDT AX9600 Unicomp Le système d'inspection à rayons X microfocus UNICOMP AX9600 160KV est équipé d'un tube à rayons X microfocus de type ouvert haute puissance exclusif de 160kV, permettant d'obtenir un ...

Détails du produit

Mettre en évidence:

Machine à rayons X à microfocus de 160KV

,

inspection de la liaison des fils à semi-conducteurs

,

machine à rayons X NDT AX9600

Machine Type: Équipement d'inspection à rayons X à microfocus pour semi-conducteurs
Dimensions: 1690 mm (L) × 2116 mm (L) × 1880 mm (H)
Tube Type: Type ouvert
Machine Weight: 4590kg
Voltage: 160KV
Model: AX9600
Description du produit
Machine d'inspection à rayons X Microfocus 160KV pour la liaison de fils de semi-conducteurs NDT AX9600 Unicomp
Le système d'inspection à rayons X microfocus UNICOMP AX9600 160KV est équipé d'un tube à rayons X microfocus de type ouvert haute puissance exclusif de 160kV, permettant d'obtenir un point focal ultra-fin de seulement 0,8 μm. Prenant en charge un grossissement géométrique maximal de 2 000 × avec une pénétrabilité supérieure des rayons X, ce système permet une quantification précise de la fraction de vide pour les diodes TVS et sert de solution d'inspection de haute précision adaptée aux emballages de circuits intégrés avancés, aux matrices de stockage HBM et à la vérification de la qualité des dispositifs à semi-conducteurs GPU.
Spécifications techniques
Résumé du système
Dimensions 1690 mm (L) × 2116 mm (L) × 1880 mm (H)
Poids 4590kg
Alimentation 220 V ± 10 % 50 Hz/60 Hz 9 A
Consommation d'énergie 2kw
Tube à rayons X
Type de tube Type ouvert
Tension 160 kV
Max. Pouvoir 64W
Résolution min. 1 µm
Système d'imagerie
Détecteur de rayons X FPD
Taille des pixels 84 µm
Zone de détection 129*129mm
Matrice de pixels 1536*1536[pixels]
Fréquences d'images Max 30 ips
Grossissement du système 34000X
Système de contrôle de mouvement
Max. Taille de la charge utile 520*520[mm]
Max. Taille de détection 520*520[mm]
Distance de déplacement sur l'axe X/Y/Z 550/710/265[mm]
Inclinaison et rotation Détecter l'inclinaison XY ± 70 °
PC industriel
Mode de contrôle de mouvement Écran incurvé HD 4K de 34 pouces
Système opérateur Windows 11 64 bits
Stockage Disque dur de 4 To + SSD de 512 Go
Mémoire 32G
Processeur i5 12 génération
Autres fonctionnalités
Fonctionnement de la porte Porte automatique
Sécurité des rayons X <1µSv/h
Applications
Le système d'inspection à rayons X microfocus haute puissance UNICOMP AX9600 est conçu pour une évaluation non destructive (NDE) ultra-précise des semi-conducteurs et des composants microélectroniques avancés. Il fournit une quantification haute fidélité des fractions de vide pour les diodes TVS, ainsi qu'une inspection des défauts internes pour les boîtiers IC avancés, les matrices de mémoire à large bande passante HBM, les modules GPU et les assemblages électroniques haute densité.
Largement déployé pour la validation de la qualité dans l'électronique automobile, les semi-conducteurs de puissance, le matériel électronique de qualité aérospatiale et les composants de précision miniatures, le système facilite la caractérisation précise des micro-vides, des anomalies des joints de soudure, des fractures internes et des irrégularités d'assemblage. Il fournit un support technique solide pour la validation de la R&D et le contrôle qualité des processus de production de masse dans le secteur de la fabrication de semi-conducteurs haut de gamme.
Images d’inspection
UNICOMP AX9600 X-ray inspection system sample inspection image showing high-precision component analysis
Exemple d’image d’inspection
UNICOMP AX9600 X-ray inspection system dimensions and physical appearance diagram
Dimensions et apparence du système
Notation globale
5.0
★★★★★
★★★★★
Basé sur 50 critiques récemment
cinq étoiles
100%
4 étoiles
0
3 étoiles
0
2 étoiles
0
1 étoile
0
Toutes les critiques
  • J
    J*n
    United States Jan 21.2026
    ★★★★★
    ★★★★★
    NICE
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