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Scan interne de défauts de haute précision Inspection de sécurité de batterie au lithium Batterie Rayons X AX9600 Instrument de test d'énergie nouvelle Unicomp

Propriétés de base
Lieu d'origine: La Chine
Nom de la marque: UNICOMP
Attestation: CE, FDA
Numéro de modèle: AX9600
Propriétés commerciales
Quantité minimum de commande: 1SET
Prix: can negotiate
Conditions de paiement: T/T, L/C
Capacité d'approvisionnement: 30 ensembles par mois
Résumé du produit
Scan de défaut interne de haute précision Inspection de la sécurité de la batterie au lithium Batterie à rayons X AX9600 Unicomp Nouveau instrument d'essai d'énergie Positionnement du produit: L'AX9600 est l'équipement d'inspection par rayons X à semi-conducteurs le plus sophistiqué d'Unicomp ...

Détails du produit

Mettre en évidence:

machine de rayon de la sécurité dans les aéroports X

,

machine de rayon de la sécurité X

Model: AX9600
Place Of Origin: Guangdong, Chine (continentale)
Weight: 4590kg
Voltage: 160KV
Tube Type: Type ouvert
Tilt And Rotation: Détecteur XY ±70° Inclinaison
Description du produit

Scan de défaut interne de haute précision Inspection de la sécurité de la batterie au lithium Batterie à rayons X AX9600 Unicomp Nouveau instrument d'essai d'énergie



Positionnement du produit:


L'AX9600 est l'équipement d'inspection par rayons X à semi-conducteurs le plus sophistiqué d'Unicomp Technology.qui a brisé le monopole étrangerIl est stratégiquement positionné comme équipement d'inspection pour les puces de puissance de calcul de l'IA et les emballages avancés,et a reçu le prix EM Innovation Award et le prix Advanced Manufacturing Innovation Achievement Award.


AX9600est Unicompsystème d'inspection par rayons X à tube ouvert phare, conçus pourapplications de semi-conducteurs haut de gamme et d'emballage avancéRésolution à l'échelle nanométriqueest critique.

Choisissez AX9600 si vous avez besoin:

  • Détection de défauts sous micron (0,8 μm) pour les puces HBM/GPU/AI

  • Technologie à tube ouvert avec source de 160 kV développée par l'entreprise

  • Inspection automatisée alimentée par l'IA avec gain d'efficacité de 2000%

  • La capacité d'emballage 3D avancé (TSV/TGV/3D-SiP)

  • Inspection des semi-conducteurs de troisième génération (SiC/GaN)


Les spécifications:


Résumé du système Les dimensions Le nombre d'étoiles est déterminé par le nombre d'étoiles de l'échantillon.
Le poids 4590 kg
Énergie 220V ± 10% 50 Hz/60 Hz 9A
Consommation d'électricité 2 kW
Tubes à rayons X

Type de tube Type ouvert
Voltage 160kv
Max. Puissance 64 W
Taille du point focal 1 μm
Système d'image Détecteur de rayons X FPD
Taille des pixels 84 μm
Zone de détection La taille de l'appareil doit être indiquée.
Matrice de pixels Le nombre d'éléments de mesure est le suivant:
Taux d'images Max 30 images par seconde
Magnification du système 34000X
Système de contrôle du mouvement Taille maximale de la charge utile Pour les pièces détachées:
Max.Taille de détection Pour les pièces détachées:
Distance de déplacement de l'axe X/Y/Z ((mm) Le nombre d'étoiles est déterminé en fonction de la taille de l'étoile.
Tilt et rotation Détecter une inclinaison de XY±70°
PC industriels Mode de commande de mouvement Affichage courbé 4K HD de 34 pouces
Taille maximale de la charge utile Windows 11 à 64 bits
Taille maximale de détection Disque dur de 4 To + disque SSD de 512 G
Distance de déplacement de l'axe X/Y/Z ((mm) 32G
Tilt et rotation i5 12 génération
Autres La porte est ouverte. Porte automatique
Sécurité aux rayons X Les émissions de dioxyde de carbone sont les suivantes:


FAQ:

Q1: Qu'est-ce qui différencie l'AX9600 des autres systèmes d'inspection par rayons X?
Les caractéristiques de l'AX9600Source de rayons X à microfocus ouvert de 160 kV développée par Unicomp¥le premier tube ouvert de production nationale en Chine.0Résolution à l'échelle nanométrique de 0,8 μmetMagnification de 2000X, brisant le monopole étranger dans cette technologie.

Q2: Quels composants de semi-conducteurs l'AX9600 peut-il inspecter?
Le système est optimisé pourLes puces informatiques HBM, GPU et IA,Emballages avancés 3D et SiP,Interconnexions TSV/TGV, etdes semi-conducteurs de troisième génération (SiC, GaN)Il détecte les défauts au niveau des plaquettes et des puces, y compris les vides, les fissures, les ponts, la délamination et les problèmes de soudure.

Q3: L'AX9600 utilise-t-il une IA pour l'inspection?
Oui, l'AX9600 est équipéMesure automatique des défauts à l'aide d'IAavec0Analyse rapide de 0,8 seconde par point, réaliserAmélioration de l'efficacité de 2000%Il comprend également la restauration d'images à super résolution par IA et l'optimisation d'images HDR.

Q4: L'AX9600 a-t-il remporté des prix de l'industrie?
L'AX9600 a gagné lePrix de l'innovation dans les pays émergentsen mars 2026 et lePrix de l'innovation dans la fabrication avancéeen 2025, en reconnaissant ses contributions révolutionnaires au contrôle de la qualité des semi-conducteurs.

Q5: Quel est l'avantage d'une source de rayons X à tube ouvert?
La technologie à tube ouvert offrepoint focal plus petit (0,8 μm),une capacité de tension plus élevée (160 kV), etune meilleure résolutionIl permet deimagerie à l'échelle nanométriqueessentiels pour détecter les défauts des emballages de semi-conducteurs avancés et des puces d'IA


Images d' inspection:

Scan interne de défauts de haute précision Inspection de sécurité de batterie au lithium Batterie Rayons X AX9600 Instrument de test d'énergie nouvelle Unicomp 0

Dimensions et apparence:

Scan interne de défauts de haute précision Inspection de sécurité de batterie au lithium Batterie Rayons X AX9600 Instrument de test d'énergie nouvelle Unicomp 1


Domaines d'application:

Scan interne de défauts de haute précision Inspection de sécurité de batterie au lithium Batterie Rayons X AX9600 Instrument de test d'énergie nouvelle Unicomp 2

Notation globale
5.0
★★★★★
★★★★★
Basé sur 50 critiques récemment
cinq étoiles
100%
4 étoiles
0
3 étoiles
0
2 étoiles
0
1 étoile
0
Toutes les critiques
  • J
    J*n
    United Kingdom Mar 12.2026
    ★★★★★
    ★★★★★
    Good!
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