L'inspection nano intelligente, des idées pour l'avenir!
2026/03/28
Le 26 mars 2026, la 21e cérémonie des EM Innovation Awards s'est tenue à Shanghai.
Doté de capacités avancées comprenant la capture complète des défauts de niveau 0,8 μm, l'imagerie à l'échelle nanométrique et l'inspection intelligente à pleine portée de l'IA,
L'AX9600 d'Unicomp Technology a remporté le prix EM Innovation.
Une radiographie à tube ouvert.
AX9600 Équipement d'inspection intelligente à semi-conducteurs
AX9600 Équipement d'inspection intelligente à semi-conducteurs
Équipé d'une source de rayons X à microfocus de type ouvert de 160 kV développée par Unicomp, il répond facilement aux exigences d'inspection des puces informatiques IA telles que HBM et GPU,ainsi que des applications d'emballage avancées.
• Super grossissement 2000X • Imagerie haute définition en temps réel
• Inspection omnidirectionnelle à 360° • Mesure automatique des défauts par IA
En tant que prix très prestigieux dans l'industrie de la fabrication électronique,le prix Innovation EM sélectionne les fournisseurs ayant apporté une contribution exceptionnelle au développement et à l'innovation du secteur,
Il est basé sur sept dimensions, dont la capacité d'innovation, l'amélioration de la capacité de production et l'avancement des processus.
Cette reconnaissance souligne que les performances robustes de l'AX9600 ont été très appréciées par l'industrie et le marché,Il s'agit d'une initiative qui démontre la confiance totale et la forte préférence des clients de l'industrie pour la technologie Unicomp.
