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Qualité résolution d'Unicomp 110 LP/CM de machine de la batterie au lithium de taille de tache de 15μm X Ray Usine

résolution d'Unicomp 110 LP/CM de machine de la batterie au lithium de taille de tache de 15μm X Ray

Système d'inspection en ligne de rayon X de batterie au lithium d'Unicomp, compatible avec la chaîne de production de batterie Caractéristiques : Paramètres de système Dimension (L×W×H) 3300mmX1500mmX2000mm Poids 2.5t Environnement de travail 0~40℃ Puissance 4KW Exactitude ±60μm Mode opérationnel En ...

Qualité Unicomp UNCT3200 Système CT industriel 320 kV pour l'inspection des lames du moteur Usine

Unicomp UNCT3200 Système CT industriel 320 kV pour l'inspection des lames du moteur

Système de tomodensitométrie/tomographie assistée par ordinateur 3D CT/Computed Tomography haute résolution UNCT3200 450KV pour l'analyse de la porosité des moulages de pales de moteur Spécifications clés Attribut Valeur Tension maximale du tube 320kV Poids maximal détecté 100kg Zone d'imagerie ...

Qualité Temps réel efficace non destructif de systèmes d'inspection de l'essai X Ray de culture intégrée pour des matières étrangères Usine

Temps réel efficace non destructif de systèmes d'inspection de l'essai X Ray de culture intégrée pour des matières étrangères

Système intégré de la culture NDT X Ray, détecteur efficace de temps réel de matières étrangères Caractéristique du produit Outillage et montage de flexibilité Facile à utiliser, conception du logiciel conviviale Adapté aux besoins du client pour fournir des solutions Service après-vente de réseau ...

Qualité Machine de rayon X de haute résolution AX8200MAX pour l'inspection intérieure de défauts de puce de Semicon Usine

Machine de rayon X de haute résolution AX8200MAX pour l'inspection intérieure de défauts de puce de Semicon

Machine de rayon X de haute résolution AX8200MAX pour l'inspection intérieure de défauts de puce de Semicon Champs d'application Largement appliqué pour BGA, CSP, Flip Chip, LED, fusible, diode, carte PCB, semi-conducteur, industrie de batterie, petiteBâti en métal, module de connecteur électronique...

Qualité Rayon X de la Chine Unicomp 90KV avec le système d'inspection de HD PFD pour la détection de défauts de jeu de puces Usine

Rayon X de la Chine Unicomp 90KV avec le système d'inspection de HD PFD pour la détection de défauts de jeu de puces

Rayon X de la Chine Unicomp 90KV avec le système d'inspection de HD PFD pour la détection de défauts de jeu de puces Champs d'application Largement appliqué pour BGA, CSP, Flip Chip, LED, fusible, diode, carte PCB, semi-conducteur, industrie de batterie, petiteBâti en métal, module de connecteur ...

Qualité X promenade de scanner de sécurité de Ray par le détecteur de métaux d'or de porte avec le système d'alarme intelligent Usine

X promenade de scanner de sécurité de Ray par le détecteur de métaux d'or de porte avec le système d'alarme intelligent

Promenade portative par le détecteur de métaux d'or de porte avec le système d'alarme intelligent Le détecteur de métaux portatif de cuvette de promenade d'UNX-600M adoptent des techniques avancées, avec un certain nombre de brevets et de certificats sur le matériel, l'aspect, la technologie et la ...

Qualité Compteur durable de puce de X Ray, composant de machine de l'électronique X Ray comptant l'industrie 4,0 d'inventaire de SME Usine

Compteur durable de puce de X Ray, composant de machine de l'électronique X Ray comptant l'industrie 4,0 d'inventaire de SME

Système d'inspection de rayon d'Unicomp X de composant électronique de puce de SMD contre- Cet équipement est principalement utilisé pour le compte rapide de la production des matériaux de bobine, le type matériel inclut tous les matériaux de type résistance et des matériaux d'IC ; par l'utilisation ...

Qualité Contre- BGA X Ray machine d'inspection de la puce BGA micro sur l'analyse de côtelette Usine

Contre- BGA X Ray machine d'inspection de la puce BGA micro sur l'analyse de côtelette

Ébréchez la contre- machine d'inspection de BGA X Ray BGA micro sur l'analyse de côtelette Radiographiez la technologie de détection pour les moyens d'essai de production de SMT a apporté de nouveaux changements, il peut dire que c'est le désir d'améliorer plus loin le niveau de la technologie de ...

Qualité Équipement d'inspection par rayons X à microfocus à semi-conducteurs Unicomp AX8300 Plus Usine

Équipement d'inspection par rayons X à microfocus à semi-conducteurs Unicomp AX8300 Plus

Équipement d'inspection par rayons X à microfocus à semi-conducteurs Unicomp AX8300 Plus Application du projet BGA, CSP, LED, Flip Chip; Composants automobiles et nouvelle industrie énergétique; fonte sous pression en aluminium, plastique moulé; produits céramiques et autres industries spéciales. ...